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能谱仪器X-Max Extreme

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能谱仪器X-Max Extreme

  • 所属分类:能谱仪器

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  • 发布日期:2017/11/03
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详细介绍

 X-Max Extreme全新硅漂移探测器是能谱探测器领域的又一突破,为超高分辨率FEG-SEM的应用及超越常规的微米和纳米尺度分析提供了全新的解决方案。X-Max Extreme是100mm2无窗版本的X-Max,可显著地提高灵敏度和空间分辨率。 它采用了优化的径向几何设计,可实现在超高分辨场发射扫描电镜的低电压及小工作距离条件下同时采集图像和能谱。X-Max Extreme可实现能谱的分辨率达到相应扫描电镜的分辨率。
SEM-EDS超高空间分辨率
FEG-SEM中优于10nm的元素表征
材料表面表征灵敏度高
SEM中表征材料表面
超低电压下进行材料鉴定
低至1千伏材料表征
最快、最准确的纳米尺度表征
快速采集并实时数据处理大块样品
极致的轻元素灵敏度
锂、氮和氧等轻元素的检测提高至新水平
技术背景Open样本下载Open终极扫描电镜能谱空间分辨率Open表面科学的灵敏性Open低电压材料辨别Open快速、准确的纳米表征Open轻元素极高灵敏性——包括 .锂Open


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