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FIB-SEM三束系统 NX2000

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FIB-SEM三束系统 NX2000

  • 所属分类:FIB

  • 点击次数:
  • 发布日期:2017/11/03
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详细介绍

追求最完美的TEM样品制备工具


在尖端设备及高性能纳米材料的评价和分析领域,FIB-SEM已成为不可或缺的工具。

近来,目标观察物更趋微细化;更薄,更低损伤样品的制备需求更进一步凸显。

日立高新公司,整合了高性能FIB技术和高分辨SEM技术,再加上加工方向控制技术以及Triple Beam®*1(选配)技术,推出了新一代产品NX2000

特点:

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规格:

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相关标签:日立扫描式电子显微镜(SEM),日立电子显微镜SU8000系列价格,日立电子显微镜SU8000系列批发

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